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APS-100型高濃度納米粒度儀

簡要描述：APS-100高濃度納米粒度儀，APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

產(chǎn)品型號：
廠商性質：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-11-26
訪問量：4096

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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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詳細介紹

品牌	其他品牌	測量時間	1-10min秒
分辨率	大于0.1nm 微米	測量范圍	5nm-100μ 微米
重現(xiàn)性	<1%	分散方式	濕法分散
價格區(qū)間	100萬-150萬	儀器種類	動態(tài)光散射
產(chǎn)地類別	進口	應用領域	醫(yī)療衛(wèi)生,食品,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥

　　APS-100高濃度納米粒度儀

　　原理簡介：

　　APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

　　當聲音穿越泥漿或膠體時，是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關。APS可在1 - 100 MHz的頻率范圍內(nèi)非常準確地測量聲音衰減。因為聲音穿過所有的物質媒介，APS聲音衰減的測量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進行。粒子沉降并不是一個問題，因為在測量時樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。

　　APS取樣分析是快速和容易的，無需稀釋樣品。稀釋樣品費時，容易出錯，并可能改變樣品的實際PSD。簡單地倒，或者連續(xù)泵送樣品進入到APS的樣品室，APS的直觀的軟件在幾分鐘內(nèi)做玩余下的工作。

　　計算詳細PSD數(shù)據(jù)的技術，不需要假設PSD形狀。其他類型的儀器，例如光散射，意味著軟件或操作者假設或猜測PSD是單峰、雙峰、對數(shù)正態(tài)或高斯分布的。這種假設可能導致數(shù)據(jù)不可靠。

　　專門的APS硬件設計簡化了操作，同時減少維護。這個設計適合研發(fā)以及重復質量控制測量。APS也適合過程在線操作。

　　APS-100高濃度納米粒度儀

　　主要用途：

　　1)半導體化學機械拋光(CMP)料漿；

　　2)陶瓷；

　　3)油墨；

　　4)乳劑穩(wěn)定性；

　　5)藥品；

　　6)生物膠體；

　　7)熒光粉；

　　8)有機和無機顏料如Ti02和炭黑；

　　9)催化劑；

　　10)礦物；

　　11)聚合物乳液；

　　12)水和非水分散體系；

　　技術參數(shù)：

　　1)完整的粒度分布,而不是簡單的平均值和標準偏差大小的數(shù)據(jù)；

　　2)不需要稀釋樣品；

　　3)不需要假設PSD形狀；

　　4)粒度范圍：0.005-100微米；

　　5)無電解質干涉；

　　6)可測量水的/非水的/不透明的/粘性的樣品；

　　7)可測量縱向粘度，%固體，PH值，電導率，溫度，聲衰減和聲速度譜；

　　8)具有自動滴定選項；

　　9)專門技術：1-100MHz聲衰減譜；

　　10)溶劑：水/非水；

　　11)樣品固體%：0.1-60%體積比；

　　12)樣品體積：標準是120ml，50ml小體積可用；

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